平面顯示器面板點燈測試

平面顯示器面板點燈測試｜台灣最專業的半導體領導品牌-精研微科技股份有限公司

如有平面顯示器面板點燈測試與半導體應用等相關問題，請參考下列服務內容，或與我們聯繫。

服務內容：半導體製造, 半導體生產, 半導體批發, 治具, 彈簧探針, 垂直探針卡, 測試插座, 面板測試, 機器設備

用途：FPD(LCD、OLED、Touch Panel等）點燈測試及短斷路測試.

說明：

隨著LCD、OLED解析度提昇，Pad的間距越來越小，精研的Micro Cube可確保穩定的點燈測試。獨特的接觸針款和超微精細加工技術，確保可適用於"交錯排列25um"及"直線排列40um"的微小間距。除此之外，每一根探針都相對獨立並具彈性，可對全部Pad均勻接觸，而且每一根探針都可單獨維修更換。 另外，Film Test Head可對應"交錯排列15um" 的微小間距。我們還經營可搭載各式治具的測試機台。除Cell面板測試以外，還可設計製作模組化後的點燈測試治具。