Kelvin測試探針卡

Kelvin測試探針卡｜台灣最專業的半導體領導品牌-精研微科技股份有限公司

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服務內容：半導體製造, 半導體生產, 半導體批發, 治具, 彈簧探針, 垂直探針卡, 測試插座, 面板測試, 機器設備

說明：

使用傳統探針之Kelvin探針卡，因其Force及Sense的針間距無法縮短，造成針尖在錫球上打滑，針尖未能在Pad中心，所以無法得到穩定接觸。

精研之新型Kelvin探針卡可依照傳統探針使用方式，將針尖的間距縮短至60um；除此之外針對極小Bump及Pad也可穩定接觸。

不僅指針對探針卡，也可運用於Test Socket。可對應CSP、BGA、QFN等各式各樣元件之Kelvin量測，Min. Pitch可達 0.3 mm。