半導體測試

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IC 測試插座

型號 : ic-test-socket

對於無鉛化焊球，利用獨創的先進塗層技術及合金阻止了焊料的附著，從而實現可靠的測試。而且不僅可以進行單點接觸，也可進行Kelvin接觸。

平面顯示器面板點燈測試

型號 : Flat Panel Display Lighting Test

隨著LCD、OLED解析度提昇，Pad的間距越來越小，精研的Micro Cube可確保穩定的點燈測試；獨特的接觸針款和超微精細加工技術，確保可適用於"交錯排列25um"及"直線排列40um"的微小間距。

彈簧探針式探針卡

型號 : pogo-pin-probe-card

在WLCSP、FLIPCHIP測試中，將多年製作Test Socket所累積之對錫球的接觸技術運用於探針卡的製作上。利用獨創的先進鍍層技術及合金材料阻止銲錫附著，進而實現可靠的測試。

高頻探針

型號 : High Frequency Probe

為確保各種半導體RF元件信賴性，高頻探針不可缺。
1.為使達到高頻測試目的，將全長短縮至極限長度1.5mm。
2.依元件電極種類，可提供皇冠頭、尖頭等不同針型。
3.跟一般彈簧探針一樣，可單獨更換其中任一支探針。

PCB/基板測試系統, MCM基板測試系統, 桌上型手動測試夾具

型號 : test-machine

從桌上型小面板到落地型中小型面板測試機台，我們可根據客戶需求，製作各種規格產品。

另外，除了面板機台以外，關於基板、元件方面測試機台，也可聯絡我們。

各式特殊需求探針

型號 : special-needs-probe

針對電子羅盤、霍爾IC、MR、MI Sensor等各種磁傳感器的檢查，尋求使用無磁化探針檢查。

Kelvin測試探針卡

型號 : kelvin-probe-card

使用傳統探針之Kelvin探針卡，因其Force及Sense的針間距無法縮短，造成針尖在錫球上打滑，針尖未能在Pad中心，所以無法得到穩定接觸。

TCP/COF用探針卡

型號 : tcp-cof-vertical-type-probe-card-1

比現狀TCP、COF檢查用探針卡更容易對應Multi DUT產品，每支針可個別更換，降低營運成本。

高頻測試插座

型號 : high-frequncy-test-socket

經由改變針頭形狀和表面處理，使得探針在LGA、BGA等封裝方式測試方面，有穩定信號傳輸及沒有限制探針配置的優點。

TCP/COF 測試插座

型號 : tcp-cof-test-socket

採用具有獨創構造的Tubeless探針，適用於150um窄小間距。Tubeless探針採用無套筒彈簧的獨創構造，可適用於高密度的測試頭。另外，經由採用獨創的彈簧，不僅可適用於小間距，同時可實現100萬次的耐用壽命。

POGO TOWER, MCM IC封裝基板測試探針治具, TAB/COF/TBGA 短斷路檢查治具

型號 : test-fixture

種類齊全的探針系列，多年來治具製作累積的專有技術，產品可滿足各種電子零組件的測試要求。所以，任何需要使用探針進行接觸測試的業務都可以聯繫我們。

訂製探針

型號 : probe-for-customer-design

針對客戶需求，可訂製各式探針。
無論長短、針頭形狀、材料材質、電鍍種類、高頻需求、高溫需求、大電流需求...等皆可對應，若有其他需求，亦歡迎提出檢討。